- 北邮光的等厚干涉
北邮光的等厚干涉有：
1. 平行光入射到焦平面时，形成的干涉条纹；
2. 平行光入射到反射面上，反射光经焦平面出射形成的等厚干涉；
3. 平行光经分光镜反射后，反射光线交点形成的等厚干涉；
4. 平行光经透镜折射后，反射光线交点形成的等厚干涉；
5. 激光器发出的激光经聚焦后，通过单色滤光片形成的等厚干涉。
以上就是北邮光的等厚干涉的一些类型，仅供参考。
相关例题：
题目：
在北邮光学院，我们经常使用等厚干涉来测量光学元件的表面粗糙度。假设我们有一个直径为D的圆形光学元件，其表面由n层厚度为d的薄膜组成。现在，我们想要通过等厚干涉来测量这个元件的表面粗糙度。
首先，我们需要制作一个标准的光学平面作为参考，其表面由n层厚度为d的薄膜组成。这个标准平面的干涉条纹应该是什么样的？
答案：
这个标准平面的干涉条纹应该是一系列明暗相间的同心圆环。这些圆环的半径等于薄膜的厚度d，间隔等于光源波长λ。这是因为，当光线在标准平面内不同位置发生干涉时，干涉强度会随着光程差的变化而变化。当光程差为薄膜厚度的整数倍时，干涉条纹为明亮的中心圆环；当光程差为薄膜厚度的奇数倍时，干涉条纹为暗的外部圆环。
通过观察干涉条纹，我们可以确定光学元件表面粗糙度的程度。如果干涉条纹中的同心圆环分布均匀且间隔相等，那么说明光学元件表面光滑；反之，如果同心圆环分布不均匀且间隔不等，那么说明光学元件表面粗糙。
需要注意的是，等厚干涉只能用于测量厚度均匀的光学元件表面粗糙度。对于厚度不均匀或者表面有特殊形状的光学元件，可能需要其他方法来测量表面粗糙度。
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