- 光的等厚干涉画图
光的等厚干涉画图包括：
1. 平行光通过透镜聚焦后，在透镜焦平面处放置一块厚度均匀变化的薄膜，观察反射光和透射光的干涉图样。
2. 在双缝干涉实验中，通过单缝的透镜形成的子波源，在双缝后面设置一块厚度均匀变化的有色玻璃片，观察干涉图样。
这些实验中得到的干涉图样都是光的等厚干涉图样。
相关例题：
假设我们有一个光学元件，它的表面有一些微小的凸起和凹陷。我们想要测量这些微小不平整度对特定波长光线的影响。我们可以使用一个简单的等厚干涉仪来实现这个目标。
首先，我们将一个透镜放置在干涉仪的凹面镜上，并调整它们的间距以获得特定的干涉图案。接下来，我们将一个单色光源照射到凹面镜上，并使用一个光屏记录下干涉图案。
现在，我们可以通过观察干涉图案中的明暗条纹来确定哪些波长的光线被过滤掉了。如果凸起和凹陷的深度足够大，某些波长的光线将无法通过干涉仪，因为它们在凹面镜上发生了散射或反射。这些被过滤掉的波长在干涉图案中不会产生明显的干涉条纹。
相反，其他波长的光线可以顺利地通过干涉仪并产生明显的干涉条纹。通过观察干涉图案中的明暗条纹，我们可以确定哪些波长的光线通过了干涉仪，并测量它们在凹面镜上的相位变化。这些相位变化可以用来计算光学元件表面的微小不平整度。
总之，通过使用等厚干涉仪，我们可以过滤掉某些波长的光线，并测量光学元件表面的微小不平整度。这个例子可以帮助你理解如何使用等厚干涉来测量光学元件的质量。
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