- 光的干涉实验长度
光的干涉实验长度包括以下几种：
1. 入射光屏到第N级亮条纹的距离：这个长度可以用来测量微小位移或扭转。
2. 相邻亮（暗）纹间的距离：这个长度可以用来测量薄膜的厚度，或是用来观察和分析光的衍射现象。
3. 屏上已调准亮纹的间距与实际条纹间距：这两个长度的测量可以帮助调整实验装置，并得到正确的干涉图样。
4. 实验装置中固定和移动光屏的长度：这个长度可以用来调整光屏的位置，以达到最佳的干涉观测效果。
此外，还有光屏到光源的距离、光源到分束器的距离等长度。具体长度需要根据实验装置进行调整和测量。
相关例题：
光的干涉实验中，长度测量是一个重要的部分。其中一个例子是利用干涉条纹的间距测量光学元件的厚度。具体来说，我们可以使用激光干涉仪来测量光学元件的厚度。
1. 将光学元件放在激光干涉仪的测量台上，调整光学元件的位置，使干涉条纹对齐。
2. 记录干涉条纹初始位置和最终位置。
3. 改变光学元件的位置，重复步骤1和2，直到获得足够数量的干涉条纹。
4. 根据干涉条纹的间距和光学元件的厚度公式，计算出光学元件的厚度。
需要注意的是，干涉条纹的间距与光学元件的折射率、波长和测量距离有关。因此，在实验过程中需要保持激光波长、测量距离和折射率的一致性。此外，为了获得准确的测量结果，需要多次测量并取平均值。
通过这个实验，我们可以学会使用激光干涉仪进行光学元件厚度的测量，并了解干涉条纹间距与光学元件厚度之间的关系。
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