- 北邮光的等厚干涉
北邮光的等厚干涉有：
1. 平行光入射到焦平面时，形成的等厚干涉条纹。
2. 平行光经凹凸镜后交于一点形成的等厚干涉条纹。
3. 激光器发出的激光束经过扩束、后准直，再射向空气时，在空气膜平面上形成的等厚干涉条纹。
以上就是北邮光的等厚干涉的一些例子，具体还有哪些需要根据实际情况而定。
相关例题：
题目：
在北邮光学院，我们经常使用等厚干涉来测量光学元件的表面粗糙度。假设我们有一个直径为D的圆形光学元件，其表面由许多微小的凸起和凹陷组成。我们想要测量这些凸起和凹陷的深度。为了达到这个目的，我们可以使用等厚干涉仪。
首先，我们将光学元件放在等厚干涉仪的载物台上，然后将干涉仪调整到特定的干涉模式（例如，牛顿环模式或楔子模式）。接下来，我们调整光学元件的位置，直到观察到清晰的干涉图案。这个清晰的干涉图案是由许多明暗交替的干涉条纹组成的。
现在，让我们通过一个具体的例子来说明如何使用等厚干涉来测量一个光学元件的表面粗糙度。假设我们有一个直径为10mm的圆形光学元件，其表面由许多微小的凸起和凹陷组成。我们想要测量这些凸起和凹陷的深度。
首先，我们将光学元件放在等厚干涉仪的载物台上，并将干涉仪调整到牛顿环模式。我们开始调整光学元件的位置，直到我们观察到第12条干涉条纹。这个条纹始终保持明亮，没有暗影。
h = D - 12h
其中D是光学元件的直径，h是参考片的厚度。通过测量h的值，我们就可以得到光学元件表面凸起的高度。
H = (D - h) / 2
其中H是光学元件表面凹陷的深度，h是第19条干涉条纹对应的厚度。通过测量h的值和参考片的厚度H，我们就可以得到光学元件表面凹陷的深度。
通过这种方法，我们可以准确地测量出光学元件的表面粗糙度，包括凸起和凹陷的高度和深度。这对于制造高质量的光学元件非常重要。
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